近期，有不少半導(dǎo)體行業(yè)的客戶向小編咨詢，想要進行檢微電子封裝金絲鍵合可靠性測試，該用什么設(shè)備？金線鍵合仍是主流互聯(lián)技術(shù)的今天，鍵合金絲的可靠性直接決定了微電子器件（如CPU、存儲器、功率器件等）的壽命與性能。在惡劣的工作環(huán)境下，如溫度循環(huán)、機械振動等，金絲鍵合點可能因疲勞、柯肯德爾空洞、界面污染等原因?qū)е率Вl(fā)器件功能異常甚至徹di報廢。因此，對鍵合金絲進行精確的失效分析，是提升產(chǎn)品良率、保障長期可靠性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。
失效分析不僅在于“事后診斷"，更在于“事前預(yù)防"和“過程監(jiān)控"。推拉力測試作為評估鍵合強度最直接、zui權(quán)wei的力學(xué)手段，是失效分析工具箱中的核心利器。本文科準(zhǔn)測控小編將圍繞Alpha W260推拉力測試機，系統(tǒng)介紹金絲失效分析的原理、標(biāo)準(zhǔn)、設(shè)備與操作流程，助力廣大微電子工程師深入理解并掌握這一關(guān)鍵技術(shù)。
一、 分析原理
推拉力測試的基本原理是模擬和量化鍵合點在真實應(yīng)用中可能承受的機械應(yīng)力，通過施加一個精確可控的力，直至鍵合點失效，從而測得其強度極限。
1、拉力測試
目的： 評估金絲與芯片焊盤、管腳鍵合點（第一、第二焊點）的粘附強度及金絲本身的抗拉強度。
原理： 使用精密的鉤子（測試鉤）在鍵合絲弧的中點下方鉤住金絲，以一個恒定的速度垂直向上或水平方向拉伸，直至金絲被拉斷或鍵合點被拉脫。設(shè)備記錄下整個過程的最大力值，即為鍵合點的拉斷力。
2、推力測試：
目的： 評估金絲第一焊點（芯片側(cè)）的抗剪切強度。
原理： 使用一個極細且平坦的推刀，對準(zhǔn)第一焊點的側(cè)面，以一個恒定的速度水平推進，將焊球從芯片焊盤上剪切下來。設(shè)備記錄下剪切過程中的最大力值，即為焊球的剪切力。
通過分析力值數(shù)據(jù)、失效力值大小以及失效模式（即斷裂/脫落的位置和形貌），可以準(zhǔn)確判斷鍵合工藝的質(zhì)量和潛在的失效機理。
二、 相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)
MIL-STD-883 《微電子器件試驗方法和程序》
JEDEC JESD22-B116 《線纜鍵合剪切試驗標(biāo)準(zhǔn)》
GB/T 4937 《半導(dǎo)體器件機械和氣候試驗方法》
三、 核心儀器
1、Alpha W260推拉力測試機
Alpha W260推拉力測試機是一款高精度、全自動的鍵合強度測試系統(tǒng)，專為微電子封裝失效分析和高可靠性測試而設(shè)計。
主要技術(shù)特點與優(yōu)勢：
高精度力值傳感： 采用高分辨率、多量程的力傳感器，力值分辨率可達0.001克力，確保測試數(shù)據(jù)的精確性和重復(fù)性。
精密的運動控制： 搭載高精度步進電機或伺服電機，配合精密的傳動機構(gòu)，實現(xiàn)測試鉤/推刀的微米級定位，避免對樣品造成意外損傷。
強大的視覺系統(tǒng)： 集成高倍率光學(xué)顯微鏡和CCD相機，提供清晰的實時圖像，便于操作者精確尋找測試位置和觀察失效后的形貌。
四、 測試分析流程
步驟一：樣品準(zhǔn)備與安裝
將待測的封裝好的芯片樣品（如DIP、QFP、BGA等）牢固地固定在測試機的專用夾具上。
通過軟件控制平臺，移動樣品臺，使待測鍵合絲清晰地出現(xiàn)在顯微鏡視野中央。
步驟二：測試程序設(shè)置
選擇測試模式： 根據(jù)分析目的，選擇“拉力測試"或“推力測試"模式。
參數(shù)設(shè)定：
拉力測試： 設(shè)置測試鉤類型、鉤絲高度、拉伸速度（通常為100-500 μm/s）等。
推力測試： 設(shè)置推刀類型、推刀高度（通常為焊球高度的1/4 - 1/2）、推進速度、剪切距離等。
標(biāo)定與校準(zhǔn)： 在測試前，對力傳感器和運動系統(tǒng)進行校準(zhǔn)，確保數(shù)據(jù)準(zhǔn)確。
步驟三：執(zhí)行測試
精確定位： 利用視覺系統(tǒng)，將測試鉤或推刀精確移動到預(yù)設(shè)的測試位置。
啟動測試： 啟動測試程序，設(shè)備將自動完成施力過程。
數(shù)據(jù)記錄： 系統(tǒng)自動記錄下最大力值（Fmax）和力-位移曲線。
步驟四：失效模式分析（關(guān)鍵步驟）
測試結(jié)束后，立即在顯微鏡下觀察失效位置，并根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)進行判定：
拉力測試常見失效模式：
導(dǎo)線斷裂： 斷裂點在金絲中間，表明金絲本身強度足夠，但可能存在頸縮或材料缺陷。
焊盤脫落： 鍵合點連同芯片焊盤金屬層被拉起，表明鍵合強度大于焊盤與基材的附著力，是芯片制造的缺陷。
界面失效： 鍵合點從焊盤上完整脫落，界面潔凈，表明鍵合界面結(jié)合力弱（可能因污染、氧化或參數(shù)不當(dāng)導(dǎo)致）。
推力測試常見失效模式：
焊球剪切： 焊球被wan全推離焊盤。
焊盤剝離： 焊盤金屬層被破壞。
** cratering：** 硅芯片基底被壓碎，這是最嚴重的缺陷，表明鍵合工藝能量過高。
步驟五：數(shù)據(jù)統(tǒng)計與報告生成
對同一批次的多個樣品進行測試，統(tǒng)計平均力值、標(biāo)準(zhǔn)差和CPK值，評估工藝穩(wěn)定性。
結(jié)合力值數(shù)據(jù)和失效模式，綜合判斷鍵合工藝的薄弱環(huán)節(jié)。
使用設(shè)備軟件生成包含力值曲線、失效圖片和統(tǒng)計結(jié)果的綜合性測試報告。
以上就是小編介紹的有關(guān)于微電子封裝用鍵合金絲失效分析相關(guān)內(nèi)容了，希望可以給大家?guī)韼椭Ｈ绻€對推拉力測試機怎么使用視頻和圖解，使用步驟及注意事項、作業(yè)指導(dǎo)書，原理、怎么校準(zhǔn)和使用方法視頻，推拉力測試儀操作規(guī)范、使用方法和測試視頻，焊接強度測試儀使用方法和鍵合拉力測試儀等問題感興趣，歡迎關(guān)注我們，也可以給我們私信和留言。【科準(zhǔn)測控】小編將持續(xù)為大家分享推拉力測試機在鋰電池電阻、晶圓、硅晶片、IC半導(dǎo)體、BGA元件焊點、ALMP封裝、微電子封裝、LED封裝、TO封裝等領(lǐng)域應(yīng)用中可能遇到的問題及解決方案。
